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MC-2000D涂镀层测厚仪分体式探头 可存储打印
涂层测厚仪MC-2000D仪器特点:MC-2000D型涂镀层测厚仪是高新技术的结晶,它采用单片机技术,精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、触摸按键、单探头全量程测量、体积小、重量轻;且具有存储、读出、统计、低电压指示、系统校准,其性能达到当代国际同类仪器的先进水平。
涂层测厚仪MC-2000A技术 参数:
1、测量范围 : 0~9000um
2、测量误差: 0~6000um<3%±1um
6000~9000um<4%
3、最小示值: 1um
4、显示方式 : 4位液晶数字显示
5、主要功能:
(1).测量: 单探头全量程测厚
(2).存储、删除: 可存入测量数据254个,对测量中的单个可疑数据进行删除,也可以删除存储区内的所有数据。
(3).读: 读出已存入的测量数据
(4).统计: 设有三个统计量,平均值最大值最小值
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